5G的核心应用是物联网、车联网、大数据的采集等应用领域，其中手机3D摄像头、激光雷达、无人驾驶传感器等器件，实际应用中往往是工作在窄脉冲大电流的工作条件下。例如，手机3D 摄像头的核心器件是VCSEL的半导体激光器阵列，在一个很小面积上，往往有几十至几百颗激光器IC阵列。在实际应用时，需要给激光器提供超窄脉冲电流，驱动激光器发出一个超窄脉冲的激光，而这个超窄脉冲电流大小与探测距离密切相关，往往需要脉冲电流达到20A以上，脉冲宽度越小越好，需要达到μs甚至ns级。这个激光器阵列IC，以及在后续序列封装的测试时，必须要有一个达到30A的超窄脉冲电流源。激光器芯片的测试比较复杂，牵涉到光、电的测量，也要考虑封装形式的区别。

　　激光器芯片的测量一般都要看LIV(光强-电流-电压)数据，光电参数受热的影响比较大，随着温度的升高，将直接影响激光器输出功率、阈值电流密度、电光转化效率、微分量子效率、偏振度等性能，并导致半导体激光器寿命和可靠性的下降，甚至会损毁芯片，最终影响器件可靠性。另外，大功率激光器芯片在直流以及宽脉冲下的测试结果不准;电源的波动将会影响激光器的寿命，同时会造成光功率不稳定及器件发热不稳定等。

　　光器件测试仪器的研究与开发，技术上涉及前沿的小信号处理技术、射频电路技术、高速电路技术、数字信号处理技术、嵌入式软件开发技术、自动控制技术、工程技术等，综合性很强，需要企业在自己的领域内有较长时间的技术与理论积累，进入门坎高。为了满足激光器产业链对窄脉冲LIV测试的需求，普赛斯仪表与多应用领域的头部企业进行了深入的探讨，基于多年的技术沉淀与创新，推出了PL窄脉冲LIV测试系统。

　　PL系列窄脉冲LIV测试系统由PL系列脉冲恒流源、测试夹具、积分球、光纤、光谱仪等组成。测试原理LIV测试采用对激光器脉冲电流供电，测量器件两端电压和器件输出光功率。LIV测试系统作为精密的电流脉冲源，驱动激光器发出不同波长的激光，激光经过特制的积分球来进行收光，积分球将具有一定发散角的光进行能量衰减，然后使用PD进行光电转换，系统对光电流进行快速采样，从而达到精准测算激光器所输出的激光功率。经典的测试原理配合普赛斯PL测试系统出色的性能和严格的指标要求，帮助行业用户完成了一系列富有挑战的测试项目。

　　系统优势 集多表功能于一体，实现一机多用：快速脉冲发生器+程控电流源+峰值取样光功率计+脉冲电压表 通过15MS/s的数字化功能，实现脉冲发生器0.1%基本测量精度;超窄至ns级的脉冲，占空比可低至0.01%;多个精密光电流测试量程;上位机LIV算法，支持各种参数的自动计算

　　脉冲高保真：脉冲无过冲、无振荡 最快脉冲上升时间300A/μs最大30A脉冲电流输出;兼容CW和QCW模式，精密的脉冲宽度可调节技术;超高速脉冲采样技术，确保在窄脉冲下采样数据准确

　　更大的测试电流，实现更多的可能可以通过并联多达4台普赛斯PL系列设备;提供最大120A、μs级脉宽的驱动电流;同一个上位机软件上实现大功率激光器的LIV测试

　　上位机测试软件丰富，功能强大系统配有专用上位机软件;实现快速测试，提高测试效率。

　　在激光器光谱特性等光学参数项目测量中，测试机仍需要电流源为器件供电，根据实际应用有CW和QCW模式两种。推荐使用普赛斯PL系列窄脉冲测试系统集成使用，PL系列作为恒流电流源也可同时为光谱仪、其他自动化设备、扩展接口等提供I/O接口及合理设计的测试夹具，从而实现测试机的全参数自动化测试。

　　普赛斯仪表以先进的测试测量技术作为半导体行业科研与测试需求的基石，与时俱进为激光器测试与老化的应用场景提供专业可靠的测试测量设备，打破传统的测试解决方案将帮助您更高效达到测试目标。PL系列激光器LIV窄脉冲测试系统、HCPL系列大功率激光器测试电源、LDBI系列多路大功率激光器老化系统等更多产品及方案详情，欢迎联系咨询。

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